2021-05-27
1637
產(chǎn)品特點(diǎn)
Part 01
采用科研級(jí)CMOS傳感器
M4000 PLUS全譜直讀光譜儀采用了科研級(jí)CMOS檢測(cè)器,繼承M4000型直讀光譜儀的全譜分析特性同時(shí),開創(chuàng)了PPM級(jí)元素分析新紀(jì)元。
? 噪聲低:科研級(jí)感光元器件,噪聲小,抗干擾強(qiáng),具備防光暈技術(shù)
? 抗干擾:CMOS探測(cè)器集成度高,可避免外部電路引入噪聲
? 讀取速度快:采用OEO(Optimal Element-Oriented)技術(shù),像素信號(hào)單獨(dú)讀取,實(shí)現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)
? 紫外響應(yīng)高:高紫外響應(yīng)靈敏度,無需鍍膜,實(shí)現(xiàn)非金屬元素(C,S,P)分析,效果更優(yōu)
Part 02
獨(dú)特的密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)
?光室密封性更佳,可保持內(nèi)部氬氣長(zhǎng)期純凈
?紫外分析環(huán)境與真空光室的10-3Pa相當(dāng),優(yōu)化了短波元素的分析性能
?氬氣循環(huán)過濾裝置,可有效濾除空氣分子,提高光室的可靠性
?光室內(nèi)外壓力差幾乎為零,可有效避免大氣壓力引起的光學(xué)系統(tǒng)漂移,進(jìn)而提高產(chǎn)品的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
?降低充氬系統(tǒng)的氬氣消耗,有效節(jié)約生產(chǎn)成本
Part 03
易用體驗(yàn)升級(jí)
? 優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的完美結(jié)合,多重穩(wěn)定保障,更好地監(jiān)控儀器運(yùn)行狀態(tài),提升分析效果,減少校準(zhǔn)頻率
? 支持全譜分析檢測(cè),拓展性更高,增加分析基體和元素?zé)o需增加硬件,通過軟件即可擴(kuò)展分析范圍,使用更靈活
? 智能曲線功能可滿足對(duì)所有材料的分析需求,真正實(shí)現(xiàn)未知樣品分析,無需糾結(jié)模型選擇,操作更加簡(jiǎn)便
? 友好的人機(jī)交互設(shè)計(jì),軟件主界面簡(jiǎn)潔清晰,圖形化顯示,短時(shí)間即可學(xué)會(huì)并熟練操作軟件
? 新增遠(yuǎn)程維護(hù)功能,可遠(yuǎn)程升級(jí)固件程序,遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài),對(duì)儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
技術(shù)性能
01
智能可靠的全數(shù)字光源
可編程脈沖合成全數(shù)字光源,適用于激發(fā)各種合金材料,有利于提高分析精度
02
方便的樣品激發(fā)臺(tái)
·開放式樣品激發(fā)臺(tái),內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小,使氬氣消耗更低
·四路氬氣吹掃,可有效移除殘留粉塵,降低激發(fā)臺(tái)維護(hù)量
03
穩(wěn)定優(yōu)越的光學(xué)系統(tǒng)
·帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu),多個(gè)高性能的CMOS探測(cè)器
·可實(shí)時(shí)監(jiān)控的恒溫光室,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
04
個(gè)性化的樣品夾具
可適用于分析不同幾何形狀的大/小樣品
05
人性化的一鍵式激發(fā)
·樣品裝載激發(fā)一氣呵成,直接得到最終結(jié)果
·適應(yīng)工廠檢測(cè)環(huán)境,有效提升工作效率
06
獨(dú)創(chuàng)的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)
漂移校正前后對(duì)比圖
·在分析過程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正,增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性
·減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù),延長(zhǎng)校正周期
·自動(dòng)完成儀器校正,操作更加簡(jiǎn)便
VIP咨詢通道
公眾號(hào)